當前位置：
產(chǎn)品展示Products
日立熱場掃描電鏡SU7000
| 型 號： | SU7000 |
| 所屬分類： | 場發(fā)射掃描電鏡 |
| 報 價： |  |
日立熱場掃描電鏡SU7000SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
日立熱場掃描電鏡SU7000產(chǎn)品概述：
日立熱場掃描電鏡SU7000
日立熱場掃描電鏡SU7000
SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
日立熱場掃描電鏡SU7000
主要特點：
在相同WD的條件下，可同時實現(xiàn)二次電子、背散射電子觀察與X射線分析
多可同時實現(xiàn)6通道檢測與顯示
可配置18個附件接口
應用領域：
金屬
復合材料
半導體器件
EBSP分析
